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Infrared Physics & Technology SCIE

國際簡稱：INFRARED PHYS TECHN  參考譯名：紅外物理與技術(shù)

主要研究方向：光學(xué)-物理  非預(yù)警期刊  審稿周期： 約3.0個(gè)月 約8.1周

《紅外物理與技術(shù)》(Infrared Physics & Technology)是一本由Elsevier出版的以光學(xué)-物理為研究特色的國際期刊，發(fā)表該領(lǐng)域相關(guān)的原創(chuàng)研究文章、評論文章和綜述文章，及時(shí)報(bào)道該領(lǐng)域相關(guān)理論、實(shí)踐和應(yīng)用學(xué)科的最新發(fā)現(xiàn)，旨在促進(jìn)該學(xué)科領(lǐng)域科學(xué)信息的快速交流。該期刊是一本未開放期刊，近三年沒有被列入預(yù)警名單。

  • 3區(qū) 中科院分區(qū)
  • Q2 JCR分區(qū)
  • 475 年發(fā)文量
  • 3.1 IF影響因子
  • 未開放 是否OA
  • 56 H-index
  • 1994 創(chuàng)刊年份
  • Bimonthly 出版周期
  • English 出版語言

The Journal covers the entire field of infrared physics and technology: theory, experiment, application, devices and instrumentation. Infrared' is defined as covering the near, mid and far infrared (terahertz) regions from 0.75um (750nm) to 1mm (300GHz.) Submissions in the 300GHz to 100GHz region may be accepted at the editors discretion if their content is relevant to shorter wavelengths. Submissions must be primarily concerned with and directly relevant to this spectral region.

Its core topics can be summarized as the generation, propagation and detection, of infrared radiation; the associated optics, materials and devices; and its use in all fields of science, industry, engineering and medicine.

Infrared techniques occur in many different fields, notably spectroscopy and interferometry; material characterization and processing; atmospheric physics, astronomy and space research. Scientific aspects include lasers, quantum optics, quantum electronics, image processing and semiconductor physics. Some important applications are medical diagnostics and treatment, industrial inspection and environmental monitoring.

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Infrared Physics & Technology期刊信息

  • ISSN：1350-4495
  • 出版語言：English
  • 是否OA：未開放
  • E-ISSN：1879-0275
  • 出版地區(qū)：NETHERLANDS
  • 是否預(yù)警：否
  • 出版商：Elsevier
  • 出版周期：Bimonthly
  • 創(chuàng)刊時(shí)間：1994
  • 開源占比：0.0259
  • Gold OA文章占比：4.48%
  • OA被引用占比：0.0214...
  • 出版國人文章占比：0.54
  • 出版撤稿占比：0
  • 研究類文章占比：99.16%

Infrared Physics & Technology CiteScore評價(jià)數(shù)據(jù)（2024年最新版）

CiteScore SJR SNIP CiteScore 指數(shù)
5.7 0.565 1.043
學(xué)科類別 分區(qū) 排名 百分位
大類：Physics and Astronomy 小類：Condensed Matter Physics Q2 116 / 434

73%
大類：Physics and Astronomy 小類：Atomic and Molecular Physics, and Optics Q2 63 / 224

72%
大類：Physics and Astronomy 小類：Electronic, Optical and Magnetic Materials Q2 83 / 284

70%

名詞解釋：CiteScore 是衡量期刊所發(fā)表文獻(xiàn)的平均受引用次數(shù)，是在 Scopus 中衡量期刊影響力的另一個(gè)指標(biāo)。當(dāng)年CiteScore 的計(jì)算依據(jù)是期刊最近4年（含計(jì)算年度）的被引次數(shù)除以該期刊近四年發(fā)表的文獻(xiàn)數(shù)。例如，2022年的 CiteScore 計(jì)算方法為：2022年的 CiteScore =2019-2022年收到的對2019-2022年發(fā)表的文件的引用數(shù)量÷2019-2022年發(fā)布的文獻(xiàn)數(shù)量 注：文獻(xiàn)類型包括：文章、評論、會議論文、書籍章節(jié)和數(shù)據(jù)論文。

Infrared Physics & Technology中科院評價(jià)數(shù)據(jù)

中科院 2023年12月升級版

Top期刊 綜述期刊 大類學(xué)科 小類學(xué)科
否 否 物理與天體物理 3區(qū) INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 OPTICS 光學(xué) PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用 3區(qū) 3區(qū) 3區(qū)

中科院 2022年12月升級版

Top期刊 綜述期刊 大類學(xué)科 小類學(xué)科
否 否 物理與天體物理 2區(qū) INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 OPTICS 光學(xué) PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用 3區(qū) 3區(qū) 3區(qū)

中科院 2021年12月舊的升級版

Top期刊 綜述期刊 大類學(xué)科 小類學(xué)科
否 否 物理與天體物理 2區(qū) INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 OPTICS 光學(xué) PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用 2區(qū) 3區(qū) 3區(qū)

中科院 2021年12月基礎(chǔ)版

Top期刊 綜述期刊 大類學(xué)科 小類學(xué)科
否 否 物理 3區(qū) INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 OPTICS 光學(xué) PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用 3區(qū) 3區(qū) 4區(qū)

中科院 2021年12月升級版

Top期刊 綜述期刊 大類學(xué)科 小類學(xué)科
否 否 物理與天體物理 2區(qū) INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 OPTICS 光學(xué) PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用 2區(qū) 3區(qū) 3區(qū)

中科院 2020年12月舊的升級版

Top期刊 綜述期刊 大類學(xué)科 小類學(xué)科
否 否 物理與天體物理 2區(qū) OPTICS 光學(xué) INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用 2區(qū) 3區(qū) 3區(qū)

Infrared Physics & Technology JCR評價(jià)數(shù)據(jù)（2023-2024年最新版）

按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學(xué)科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q2 25 / 76

67.8%
學(xué)科：OPTICS SCIE Q2 37 / 119

69.3%
學(xué)科：PHYSICS, APPLIED SCIE Q2 63 / 179

65.1%
按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學(xué)科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q2 24 / 76

69.08%
學(xué)科：OPTICS SCIE Q2 43 / 120

64.58%
學(xué)科：PHYSICS, APPLIED SCIE Q2 55 / 179

69.55%

Infrared Physics & Technology歷年數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)

影響因子
中科院分區(qū)

Infrared Physics & Technology中國學(xué)者發(fā)文選摘

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