Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement SCIE

國際簡稱：IEEE T INSTRUM MEAS 參考譯名：儀器儀表和測量的IEEE Transactions

主要研究方向：工程技術-工程：電子與電氣非預警期刊審稿周期：約6.8個月

《儀器儀表和測量的IEEE Transactions》(Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement)是一本由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版的以工程技術-工程：電子與電氣為研究特色的國際期刊，發(fā)表該領域相關的原創(chuàng)研究文章、評論文章和綜述文章，及時報道該領域相關理論、實踐和應用學科的最新發(fā)現，旨在促進該學科領域科學信息的快速交流。該期刊是一本未開放期刊，近三年沒有被列入預警名單。該期刊享有很高的科學聲譽，影響因子不斷增加，發(fā)行量也同樣高。

2區(qū) 中科院分區(qū)
Q1 JCR分區(qū)
2247 年發(fā)文量
5.6 IF影響因子
未開放 是否OA
100 H-index
1952 創(chuàng)刊年份
Bimonthly 出版周期
English 出版語言

Papers are sought that address innovative solutions to the development and use of electrical and electronic instruments and equipment to measure, monitor and/or record physical phenomena for the purpose of advancing measurement science, methods, functionality and applications. The scope of these papers may encompass: (1) theory, methodology, and practice of measurement; (2) design, development and evaluation of instrumentation and measurement systems and components used in generating, acquiring, conditioning and processing signals; (3) analysis, representation, display, and preservation of the information obtained from a set of measurements; and (4) scientific and technical support to establishment and maintenance of technical standards in the field of Instrumentation and Measurement.

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Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement期刊信息

ISSN：0018-9456
出版語言：English
是否OA：未開放
E-ISSN：1557-9662
出版地區(qū)：UNITED STATES
是否預警：否
出版商：Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
出版周期：Bimonthly
創(chuàng)刊時間：1952
開源占比：0.0774
Gold OA文章占比：6.42%
OA被引用占比：0
出版國人文章占比：0.31
出版撤稿占比：0
研究類文章占比：99.47%

Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement CiteScore評價數據（2024年最新版）

CiteScore

SJR

SNIP

CiteScore 指數

1.536

1.741

學科類別	分區(qū)	排名	百分位
大類：Physics and Astronomy 小類：Instrumentation	Q1	13 / 141	91%
大類：Physics and Astronomy 小類：Electrical and Electronic Engineering	Q1	114 / 797	85%

名詞解釋：CiteScore 是衡量期刊所發(fā)表文獻的平均受引用次數，是在 Scopus 中衡量期刊影響力的另一個指標。當年CiteScore 的計算依據是期刊最近4年（含計算年度）的被引次數除以該期刊近四年發(fā)表的文獻數。例如，2022年的 CiteScore 計算方法為：2022年的 CiteScore =2019-2022年收到的對2019-2022年發(fā)表的文件的引用數量÷2019-2022年發(fā)布的文獻數量注：文獻類型包括：文章、評論、會議論文、書籍章節(jié)和數據論文。

Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement中科院評價數據

中科院 2023年12月升級版

Top期刊	綜述期刊	大類學科		小類學科
是	否	工程技術	2區(qū)	ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表	2區(qū) 2區(qū)

中科院 2022年12月升級版

Top期刊	綜述期刊	大類學科		小類學科
否	否	工程技術	2區(qū)	ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表	2區(qū) 2區(qū)

中科院 2021年12月舊的升級版

Top期刊	綜述期刊	大類學科		小類學科
否	否	工程技術	2區(qū)	ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表	2區(qū) 2區(qū)

中科院 2021年12月基礎版

Top期刊	綜述期刊	大類學科		小類學科
否	否	工程技術	3區(qū)	ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表	3區(qū) 2區(qū)

中科院 2021年12月升級版

Top期刊	綜述期刊	大類學科		小類學科
否	否	工程技術	2區(qū)	ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表	2區(qū) 2區(qū)

中科院 2020年12月舊的升級版

Top期刊	綜述期刊	大類學科		小類學科
否	否	工程技術	2區(qū)	ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表	2區(qū) 2區(qū)

Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement JCR評價數據（2023-2024年最新版）

按JIF指標學科分區(qū)	收錄子集	分區(qū)	排名	百分位
學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC	SCIE	Q1	53 / 352	85.1%
學科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION	SCIE	Q1	9 / 76	88.8%

按JCI指標學科分區(qū)	收錄子集	分區(qū)	排名	百分位
學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC	SCIE	Q1	52 / 354	85.45%
學科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION	SCIE	Q1	7 / 76	91.45%

Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement歷年數據統(tǒng)計

影響因子

中科院分區(qū)

Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement中國學者發(fā)文選摘

1、Automatic Detection of Congestive Heart Failure Based on Multiscale Residual UNet plus plus : From Centralized Learning to Federated Learning
Author: Zou, Liang; Huang, Zexin; Yu, Xinhui; Zheng, Jiannan; Liu, Aiping; Lei, Meng

Journal: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. 2023; Vol. 72, Issue , pp. -. DOI: 10.1109/TIM.2022.3227955
2、Simultaneous Implementation of the High Reliability and Accuracy in a Fiber Bragg Grating Sensing System for Space Application
Author: Zhu, Yunhong; Jin, Jing; Wang, Xiaowei; Tan, Shen; Li, Tiezhi; Xu, Hongfei

Journal: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. 2023; Vol. 72, Issue , pp. -. DOI: 10.1109/TIM.2023.3262259
3、A Dual Transformer Super-Resolution Network for Improving the Definition of Vibration Image
Author: Zhu, Yang; Wang, Sen; Zhang, Yinhui; He, Zifen; Wang, Qingjian

Journal: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. 2023; Vol. 72, Issue , pp. -. DOI: 10.1109/TIM.2022.3222503
4、Multi-Information Fusion Fault Diagnosis of Bogie Bearing Under Small Samples via Unsupervised Representation Alignment Deep Q-Learning
Author: Zhu, Yan; Liang, Xifeng; Wang, Tiantian; Xie, Jingsong; Yang, Jinsong

Journal: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. 2023; Vol. 72, Issue , pp. -. DOI: 10.1109/TIM.2022.3225008
5、ConvLSTM and Self-Attention Aided Canonical Correlation Analysis for Multioutput Soft Sensor Modeling
Author: Zhu, Xiuli; Damarla, Seshu Kumar; Hao, Kuangrong; Huang, Biao; Chen, Hongtian; Hua, Yicun

Journal: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. 2023; Vol. 72, Issue , pp. -. DOI: 10.1109/TIM.2022.3225004
6、Interpolated Individual Weighting Subband Volterra Filter for Nonlinear Active Noise Control
Author: Zhu, Wenying; Shi, Boqiang; Feng, Zhipeng

Journal: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. 2023; Vol. 72, Issue , pp. -. DOI: 10.1109/TIM.2022.3223146
7、2-D Photo-Thermal Distribution and Structures of Flip-Chip Mini Light-Emitting Diodes by Microscopic Hyperspectral Imaging
Author: Zhu, Li-Hong; Du, Wu-Jun; Huang, Jia-En; Chen, Huan-Ting; Gao, Yu-Lin; Gong, Hong-Lin; Tong, Chang-Dong; Wu, Ting-Zhu; Guo, Wei-Jie; Guo, Zi-Quan; Guo, Hao-Chung; Chen, Zhong; Lu, Yi-Jun

Journal: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. 2023; Vol. 72, Issue , pp. -. DOI: 10.1109/TIM.2023.3251405
8、A New Residual Generation-Based Fault Estimation Approach for Cyber-Physical Systems
Author: Zhu, Jun-Wei; Xia, Zhen-Hao; Wang, Xin

Journal: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. 2023; Vol. 72, Issue , pp. -. DOI: 10.1109/TIM.2023.3239637